Tugas Biomaterial 1 Fix

|
All materials on our website are shared by users. If you have any questions about copyright issues, please report us to resolve them. We are always happy to assist you.
 95 views
of 24

Please download to get full document.

View again

Description
vhgjkjldyoci.lo
Share
Transcript
  1.X-Ray Diffraction (XRD) Proses analisis menggunakan X-ray diffraction (XRD) merupakan salah satumetoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hinggasekarang. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam materialdengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Sinar X merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggisekitar 2 e! sampai #e!. Sinar X dihasilkan oleh interaksi antara $erkaselektron eksternal dengan elektron pada kulit atom. Spektrum sinar X memilki pan%ang gelom$ang  -   s&d ' -   nm $erfrekuensi  - 2 *+ dan memiliki energi ,-  e!. Pan%ang gelom$ang sinar X memiliki orde yang sama dengan %arak antar atom sehingga dapat digunakan se$agai sum$er difraksi kristal. SinarX dihasilkandari tum$ukan elektron $erkecepatan tinggi dengan logam sasaran. lehk arena itusuatu ta$ung sinar X harus mempunyai suatu sum$er elektron /oltase tinggi danlogam sasaran. Selan%utnya elektron elektron yang ditum$ukan ini mengalami pengurangan kecepatan dengan cepat dan energinya diu$ah men%adi foton.XRD digunakan untuk analisis komposisi fasa atau senya0a pada materialdan %uga karakterisasi kristal. Prinsip dasar XRD adalah mendifraksi cahaya yangmelalui celah kristal. Difraksi cahaya oleh kisi-kisi atau kristal ini dapat ter%adiapa$ila difraksi terse$ut $erasal dari radius yang memiliki pan%ang gelom$ang yangsetara dengan %arak antar atom yaitu sekitar 1ngstrom. Radiasi yang digunakan $erupa radiasi sinar-X elektron dan neutron. Sinar-X merupakan foton dengan energitinggi yang memiliki pan%ang gelom$ang $erkisar antara .' sampai 2.' 1ngstrom.etika $erkas sinar-X $erinteraksi dengan suatu material maka se$agian $erkas akandia$sor$si ditransmisikan dan se$agian lagi diham$urkan terdifraksi. *am$uranterdifraksi inilah yang dideteksi oleh XRD. 3erkas sinar X yang diham$urkanterse$ut ada yang saling menghilangkan karena fasanya $er$eda dan ada %uga yangsaling menguatkan karena fasanya sama. 3erkas sinar X yang saling menguatkanitulah yang dise$ut se$agai $erkas difraksi. *ukum 3ragg merumuskan tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar $erkas sinar X yang diham$urkan terse$utmerupakan $erkas difraksi.  a)Cara Kerja Sinar-X adalah gelom$ang elektromagnetik dengan pan%ang gelom$ang '-2mikron. Sinar ini dihasilkan dari penem$akan logam dengan elektron $erenergitinggi. 4lektron itu mengalami perlam$atan saat masuk ke dalam logam danmenye$a$kan elektron pada kulit atom logam terse$ut terpental mem$entuk kekosongan. 4lektron dengan energi yang le$ih tinggi masuk ke tempat kosongdengan memancarkan kele$ihan energinya se$agai foton sinar-X.#etode difraksi sinar X digunakan untuk mengetahui struktur dari lapisan tipisyang ter$entuk. Sampel diletakkan pada sampel holder difraktometer sinar X. Prosesdifraksi sinar X dimulai dengan menyalakan difraktometer sehingga diperoleh hasildifraksi $erupa difraktogram yang menyatakan hu$ungan antara sudut difraksi 25dengan intensitas sinar X yang dipantulkan. 6ntuk difraktometer sinar X sinar Xterpancar dari ta$ung sinar X. Sinar X didifraksikan dari sampel yang kon/ergenyang diterima slit dalam posisi simetris dengan respon ke fokus sinar X. Sinar X iniditangkap oleh detektor sintilator dan diu$ah men%adi sinyal listrik. Sinyal terse$utsetelah dieliminasi komponen noisenya dihitung se$agai analisa pulsa tinggi. Teknik difraksi sinar 7 %uga digunakan untuk menentukan ukuran kristal regangan kisikomposisi kimia dan keadaan lain yang memiliki orde yang sama. 2. Fourier Transform-Infra Red Spectroskopy   (FTIR)  Fourier Transform-Infra Red Spectroskopy  atau yang dikenal dengan 8T-9R merupakan suatu teknik yang digunakan untuk menganalisa komposisi kimia darisenya0a-senya0a organik polimer coating atau pelapisan material semikonduktorsampel $iologi senya0a-senya0a anorganik dan mineral. 8T-9R mampumenganalisa suatu material $aik secara keseluruhan lapisan tipis cairan padatan pasta ser$uk serat dan $entuk yang lainnya dari suatu material. Spektroskopi 8T-9R tidak hanya mempunyai kemampuan untuk analisa kualitatif namun %uga $isa untuk analisa kuantitatif.  Dasar lahirnya spektroskopi 8T-9R adalah dengan mengasumsikan semuamolekul menyerap sinar infra merah kecuali molekul-molekul monoatom ( *e :e1r dll) dan molekul-molekul homopolar diatomik ( *2 :2 2 dll). #olekul akanmenyerap sinar infra merah pada frekuensi tertentu yang mempengaruhi momendipolar atau ikatan dari suatu molekul.#ekanisme yang ter%adi pada alat 8T9R dapat di%elaskan se$agai $erikut.Sinar yang datang dari sum$er sinar akan diteruskan dan kemudian akan dipecaholeh pemecah sinar men%adi dua $agian sinar yang saling tegak lurus. Sinar inikemudian dipantulkan oleh dua cermin yaitu cermin diam dan cermin $ergerak. Sinar hasil pantulan kedua cermin akan dipantulkan kem$ali menu%u pemecah sinar untuk saling $erinteraksi. Dari pemecah sinar se$agian sinar akan diarahkan menu%ucuplikan dan se$agian menu%u sum$er. ;erakan cermin yang ma%u mundur akanmenye$a$kan sinar yang sampai pada detektor akan $erfluktuasi. Sinar akan salingmenguatkan ketika kedua cermin memiliki %arak yang sama terhadap detektor danakan saling melemahkan %ika kedua cermin memiliki %arak yang $er$eda. 8luktuasisinar yang sampai pada detektor ini akan menghasilkan sinyal pada detektor yangdise$ut interferogram. 9nterferogram ini akan diu$ah men%adi spektra 9R dengan $antuan computer $erdasarkan operasi matematika.Pancaran infra-merah pada umumnya mengacu pada $agian spektrumelektromagnet yang terletak di antara daerah tampak dan daerah gelom$ang mikro.3agi kimia0an organik se$agian $esar kegunaannya ter$atas di antara < cm- dan  cm- (2' = ' >m). 1khir-akhir ini muncul perhatian pada daerah infra-merah dekat <.2? = < cm- (= 2' >m) dan daerah infra-merah %auh  = 2 cm- ( <, = ' >m) Pada dasarnya Spektrofotometri 8T-9R (8ourier Trasform9nfra Red) adalah sama dengan spektrofotometri 9R dispersi yang mem$edakannyaadalah pengem$angan pada sistim optiknya se$elum $erkas sinar infra-merahmele0ati contoh. a)Cara Kerja Alat Spektrofotometer FTIR  Sistim optik Spektrofotometer 8T-9R seperti pada gam$ar di$a0ah inidilengkapi dengan cermin yang $ergerak tegak lurus dan cermin yang diam. Dengan  demikian radiasi infra-merah akan menim$ulkan per$edaan %arak yang ditempuhmenu%u cermin yang $ergerak (#) dan %arak cermin yang diam (8). Per$edaan %arak tempuh radiasi terse$ut adalah 2 yang selan%utnya dise$ut se$agai retardasi ( @ ).*u$ungan antara intensitas radiasi 9R yang diterima detektor terhadap retardasidise$ut se$agai interferogram. Sedangkan sistim optik dari Spektrofotometer 9R yangdidasarkan atas $eker%anya interferometer dise$ut se$agai sistim optik  Fourier Transform Infra Red. Pada sistim optik 8T-9R digunakan radiasi A1S4R (  Light Amplification byStimulated Emmission of Radiation ) yang $erfungsi se$agai radiasi yangdiinterferensikan dengan radiasi infra merah agar sinyal radiasi infra-merah yangditerima oleh detektor secara utuh dan le$ih $aik. Detektor yang digunakan dalamSpektrofotometer 8T-9R adalah T;S ( Tetra lycerine Sulphate ) atau #BT (  !ercury admium Telluride ). Detektor #BT le$ih $anyak digunakan karena memiliki $e$erapa kele$ihan di$andingkan detektor T;S yaitu mem$erikan respon yang le$ih $aik pada frek0ensi modulasi tinggi le$ih sensitif le$ih cepat tidak dipengaruhioleh temperatur sangat selektif terhadap energi /i$rasi yang diterima dari radiasiinfra-merah. $) ro!e #r pen$opera!ian alat FTIR  a)#enghidupkan alat 8T9R  $)1nalisis sampel dengan 8T9R c)#ematikan alat %.en$ertian Comp#teri&e Tomo$rap'y  (CT-SCA) BT-scan termasuk teknik pencitraan khusus sinar-X yang menampilkan citrakhusus o$%ek lapis demi lapis $erdasarkan per$edaan sifat densitas struktur materi penyusunan %aringan dengan $antuan teknik rekonstruksi secara matematis. BT-scanmeru$ah tampilan analog men%adi digital $erupa Pi7el ( picture element). Pi7eladalah titik-titik kecil gam$aran dimana hasil penggam$arannya $erupaRekonstruksi. Pesa0at BT scan ditemukan pada tahun ? oleh 1llan Barmack dan;eofrey *ounsfield. 3erdasarkan perkem$angan teknologi BT scan mengalami $e$erapa perkem$angan sesuai dengan kema%uan teknologi.
Related Search
We Need Your Support
Thank you for visiting our website and your interest in our free products and services. We are nonprofit website to share and download documents. To the running of this website, we need your help to support us.

Thanks to everyone for your continued support.

No, Thanks